اندازه گیری ویژگی های اپتیکی غیرخطی لایه های نازک نانوساختاری مس و روی

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

 اندازه گیری ویژگی های اپتیکی غیرخطی لایه های نازک نانوساختاری مس و روی دارای ۱۰ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد اندازه گیری ویژگی های اپتیکی غیرخطی لایه های نازک نانوساختاری مس و روی  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی اندازه گیری ویژگی های اپتیکی غیرخطی لایه های نازک نانوساختاری مس و روی،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن اندازه گیری ویژگی های اپتیکی غیرخطی لایه های نازک نانوساختاری مس و روی :

تعداد صفحات : ۱۰

  در این مقاله لایه­های نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده­ و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایه ها با استفاده از روش روبش- z اندازه­گیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش- z از لیزر موج   اندازه ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایه­های نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روبش- z محاسبه شده است.    پیوسته با طول موج ۵۳۲ نانومتر و توان ۱۳۰ میلی وات استفاده کردیم. علامت و